簡要介紹：加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗
應用領域：IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等。
主要儀器：高加速應力（HAST）試驗箱。
參考標準： GB/T 2423.40，IEC 60068-2-66，JESD22-A102等 。
案例介紹：
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